四月末的北京城，有漫天柳絮，有回暖的氣候。而最為重要的是第十五屆中國國際機(jī)床展覽會（CIMT 2017），來自展會主辦方的統(tǒng)計(jì)顯示，展會前兩日，共有55,361位專業(yè)觀眾進(jìn)館參觀。區(qū)別于以往幾屆，本屆展會的觀眾更多帶著具體的項(xiàng)目合作或設(shè)備采訪清單前來，市場回暖跡象已經(jīng)初顯。

在全球目光的注視下，CIMT展會上的“首發(fā)”技術(shù)正不斷涌現(xiàn)，蔡司就在展會首日揭幕了一款亞洲首發(fā)及其他的新產(chǎn)品，在同期舉辦的新品發(fā)布會上，以“創(chuàng)新塑造計(jì)量未來，智能軟件”主題，和參會的觀眾進(jìn)行了熱烈的探討與互動。在所展示的工業(yè)CT、三維測頭、機(jī)器人+光學(xué)測頭、智慧軟件等產(chǎn)品和解決方案中，未來的質(zhì)量保駕之道已經(jīng)明朗化了。
 

此次亞洲首秀的全新工業(yè)CT無損測量技術(shù)METROTOM，實(shí)現(xiàn)了錐束X射線斷層掃描與坐標(biāo)測量技術(shù)出色的融合，其兼具高精度與多功能的特點(diǎn)，有效取代傳統(tǒng)復(fù)雜耗時的檢測方式，解決產(chǎn)品難以觸及與隱藏部位的尺寸及形位公差測量、孔隙率分析、裝配檢驗(yàn)、模具修改、逆向工程等業(yè)界應(yīng)用難題。能夠無縫對接塑料工程、鋁壓鑄、汽車、電子、精密機(jī)械及科研檢測等行業(yè)需求。

同時，值得關(guān)注的是，傳感器和測頭正為測量帶來前所未來的“高科技”體驗(yàn)，這在蔡司的CIMT展位上隨處可見。此次展示的新型測頭ZEISS DotScan 白光測頭已經(jīng)整合到了整個蔡司測量系統(tǒng)。配備DotScan 共聚焦白光測頭的ZEISS ACCURA 多測頭平臺，也是市場上首次推出的裝于萬向旋轉(zhuǎn)測座上的白光測頭。

而新型光學(xué)傳感器LineScan：可在ZEISS CONTURA RDS 機(jī)型上應(yīng)用自如，能并帶來更精密、更可視化的測量。采用LineScan 可以擴(kuò)展ZEISS CONTURA 的功能，它具有進(jìn)行快速光學(xué)測量的特點(diǎn)。可實(shí)現(xiàn)對汽車零部件、模具及產(chǎn)品、以及需要對接觸敏感或結(jié)構(gòu)精細(xì)的表面進(jìn)行測量。

作為新型粗糙度傳感器實(shí)現(xiàn)在蔡司三坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）完成按標(biāo)準(zhǔn)對粗糙度和波紋度的檢測，新型ZEISS ROTOS 粗糙度傳感器在質(zhì)量保障檢測中，執(zhí)行一種新的、更加簡單的工作過程。其目的是在一臺測量機(jī)上進(jìn)行尺寸、位置或外形檢測并可以對相同的工件進(jìn)行粗糙度和波紋度測量。
 

此次參展的鎢燈絲掃描電鏡EVO，在質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)日益嚴(yán)苛的現(xiàn)代工業(yè)化產(chǎn)業(yè)中幫助客戶進(jìn)一步檢測樣品的微觀形貌，它具有3nm的成像分辨率，無論是工件表面的微裂紋、斷口、還是夾雜物、第二相，在EVO的觀察下都清晰可辯，無可遁形。SEM在高分辨成像的同時還可以通過EDS能譜精確而高效地檢測模具裂紋、第二相或雜質(zhì)處的元素成分信息，從而更加深入地理解其失效過程。在蔡司，你既可以通過金相顯微鏡觀察材料組織還可以通過電子顯微鏡進(jìn)一步放大微觀區(qū)域并作元素分析找到其失效源。光鏡和電鏡相結(jié)合的顆粒度分析幫助你嚴(yán)格把關(guān)汽車零配件、模具、精密機(jī)械以及航空零部件的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、并直接鎖定其失效源。

硬件技術(shù)不斷發(fā)展的大前提，軟件技術(shù)需要同樣的闊步前行。因此，蔡司PiWeb Reporting 已然成為測量機(jī)的主流配置。它作為ZEISS 測量軟件包的一部分，對測量結(jié)果進(jìn)行分析和記錄。

對于蔡司來說，每次展會都是與客戶近距離的接觸以及了解客戶需求的最佳時機(jī)。為此蔡司一直在努力，讓客戶每次都能在我們的展位上發(fā)現(xiàn)不一樣的蔡司。蔡司始終把“助力客戶成功”作為我們的核心策略，因?yàn)榭蛻舻某晒Σ攀俏覀兊某晒Α?/p>